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Vierseiten-Schlitzsystem

Hersteller: DREEBIT GmbH
Das Vierseiten-Schlitzsystem wird zur Analyse sowie zur Formung der Größe und Form eines geladenen Teilchenstrahls verwendet. Es besteht aus vier Platten, die einzeln von einer Position außerhalb des Strahls in den Strahl bewegt werden können.
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Beschreibung

Das Vierseiten-Schlitzsystem kann sowohl zur Analyse als auch zur Formung der Größe und Form eines geladenen Teilchenstrahls verwendet werden. Es besteht aus vier Platten, die einzeln von einer Position außerhalb des Strahls in den Strahl bewegt werden können. Die Position der Schlitze ist mit einer Präzision im Submillimeterbereich einstellbar.

Optional kann der Strom des geladenen Teilchenstrahls an den Schlitzen gemessen werden, was zusätzliche Informationen über die Strahlgröße und -position liefert und für die Führung des geladenen Teilchenstrahls hilfreich sein kann. Die technischen Spezifikationen und Betriebsparameter des Spaltsystems können je nach Kundenwunsch angepasst werden.

Technische Parameter

Titel Text
Parameter des Spaltsystems
Spaltbreite 20 mm
standardmäßig außermittiger Spaltweg 25 mm (andere Entfernungen auf Anfrage)
Generelle Parameter
Befestigungsflansch der Strahlführung DN 100 CF (andere Flanschtypen auf Anfrage)
Abmessungen (Länge x Breite x Höhe) 250 mm x 900 mm x 900 mm
Maximale Ausheiztemperatur 150 °C
Infrastrukturelle Anforderungen
Vakuumbedingung unter Arbeit geeignet von 1e-10 mbar bis zum amtosphärischen Druck

Lieferumfang

  • 4-Seiten Schlitz System mit Vakuumkammer und manueller Lineardurchführung

Sonderausstattung

  • motorgetriebene Lineardurchführungen für die Spaltpositionierung
  • elektrisch isolierte Spalt inkl. Verdrahtung und Durchführungen zur Strommessung an den Spalt
  • Mehrkanal-Picoampere-Meter oder Elektrometer zur Messung des Stroms geladener Teilchen oder von Impulsen an Spalt
  • Hardware und Software für die Steuerung und Messung des Spaltsystems