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StrahlmonitorEchtzeit-Bildgebung von geladenen Teilchenstrahlen
Strahlmonitor
Beschreibung
Das Beam Imaging System (BIS) ermöglicht es dem Benutzer, Teilchenstrahlquerschnitte in Echtzeit in einer Hochvakuum- oder Ultrahochvakuumumgebung zu erkennen und zu bewerten. Es erzeugt ein Bild des Strahls, indem es das eingehende Strahlsignal in sichtbares Licht umwandelt, das durch das Glasvakuumfenster überwacht werden kann.
Das System besteht im Detail aus einem linearen Durchführungssystem zum Ein- und Ausfahren des BIS aus der Achse des geladenen Teilchenstrahls, Hochspannungsdurchführungen sowie einem Glas-Sichtfenster, das auf eine DN 100 CF-Stützflansch montiert ist. Das eigentliche BIS innerhalb der Vakuumkammer besteht aus einer Mikrokanalplatte (MCP) im Chevron-Typ zur Verstärkung von Niedrigstromsignalen, einem Leuchtschirm zur Umwandlung des Signals in sichtbares Licht, einem Spiegel und einer CCD-Kamera inklusive eines Makro-Zoom-Objektivs.
Für den Fall, dass mittlere Strahlintensitäten analysiert werden sollen, die keine MCP-Verstärkung erfordern, wird das System nur mit dem Leuchtschirm geliefert.
Über die CCD-Kamera kann ein digitales Bild des Strahls zur weiteren Analyse an einen PC übertragen werden. Das gesamte Strahlabbildungssystem kann ferngesteuert werden, was wichtig ist, wenn der Zugang zur Strahllinie während des Strahlbetriebs eingeschränkt ist. Eine Steuerungssoftware und ein PC-System mit installierter Software sind optional erhältlich.
Technische Parameter
| Titel | Text |
|---|---|
| Strahlmonitor Parameter | |
| Strahlenstrombereich | 0.1 pA ... 500 nA |
| Strahlenergieakzeptanz | 10 ... 60 keV (Höhere Energien auf Anfrage) |
| Maximal erfassbarer Strahldurchmesser | 25 mm, 40 mm (Größere Durchmesser auf Anfrage) |
| Vertikaler Hub | min. 50 mm (at 25 mm Durchmesser) or 100 mm (at 40 mm Durchmesser) (andere Distanzen auf Nachfrage) |
| Generelle Parameter | |
| Befestigung Flansch | DN 100 CF |
| Höhe | 480 mm |
| Gewicht | 10 kg (22 lbs) |
| Maximale Ausheiztemperatur | 150 °C |
| Infrastrukturelle Anforderung | |
| Vakuumbedingungen unter Arbeit | geeignet von 1e-10 mbar bis zu 1e-6 mbar |
Lieferumfang
- Beam Imaging System mit Meter inklusive manuellem linearem Bewegungsdurchlass und maßgeschneiderten Kabeln
- Stromversorgungen inklusive maßgeschneiderten Kabeln
- Hardware und Software für computerbasierte Fernsteuerung und Datenauswertung
Sonderausstattung
- Fernsteuerbarer linearer Bewegungsdurchlass
- Vakuumkammer mit Beamline-Verbindungsflanschen gemäß den Kundenspezifikationen