|
TERX-Detection System
 dieses Produkt merken
| Produktbezeichnung: | TERX-Detection System |
| Produktkategorie: | Röntgenspektrometrie |
| Katalog-Nr.: | 22006 |
| Datenblatt: |  nicht verfügbar |
Die Messung von Röntgenspektren in Abhängigkeit der Ionisierungszeit ermöglicht es, die zeitliche Entwicklung der Ionen - Ladungszustandsverteilung in Ionenquellen zu untersuchen. Die zeitaufgelöste Röntgen-Spektrometrie für dielektrische Rekombination, strahlende Rekombination und Linien des direkten Anregungsprozesses, ermöglichen die Analyse der Zeitentwicklung für individuelle Ionen - Ladungszustände.
Die Abbildung zeigt ein Schema des DREEBIT TERX (Time and Energy resolved X-Ray) – Detection System. Der Kern (cRiO – System) besteht aus einem cRiO – Controller, verschiedener I/O Module und aus einem FPGA Back – Plane (Field Programmable Gate Array), welches alle kritischen Zeitaufgaben koordiniert.
Die parallele Architektur der FPGA ermöglicht das Senden und Empfangen von Informationen anderer Kanäle (neben Datenkanälen) zeitgleich zum Aufnehmen von Röntgen-Ereignissen. Dies macht die Messung von Zeit – und – Energieaufgelösten Röntgendaten realisierbar.
Das TERX-Detection System kann ein Röntgenspektrum aus EBIT-Ionenquellen (Electron Beam Ion Trap) zeitlich aufgelöst und mit verschiedenen Elektronenenergien detektieren. Mit den ermittelten Daten können Diagramme kreiert und für weitere Anwendungen gespeichert werden. Der Einsatz eines Systems mit verschiedenen Röntgen-Detektoren ist einfach durch Hinzufügen eines parallelen Ports an der Controller-Einheit möglich.
Produkt-Abbildungen:
anklicken zur Großansicht | 
anklicken zur Großansicht | 
anklicken zur Großansicht | 
anklicken zur Großansicht | 
anklicken zur Großansicht |
 print
|
|
